可根據實際情況採取清潔標本，目鏡，物鏡和工作板表面的髒物解決。 雙像不重合可能的原因為瞳距調節不正確可採取修正瞳距的措施，雙像不重合也可能是視度調節不正確可採取重新進行視度調節，還有可能是左右目鏡倍率不同可檢查目鏡並重新安裝相同倍率的目鏡。 如果是圖像不清晰可能是物鏡表面有髒物請清潔物鏡。 如果變焦時圖像不清晰有可能是視度調整不正確和調焦不正確，可重新進行視度調節和調焦。 不使用光線而利用電子流來照射標本來觀察的顯微鏡。 由於電子用肉眼看不出，因此就使電子透過觀察材料，而映在塗有螢光劑的板子上，這種方法稱為穿透式電子顯微鏡。
- 一定要從右側看着鏡筒下降，以免下降過多，造成鏡頭或標本片的損壞。
- 變焦旋鈕還設有停止鍵可以在1倍到4倍切換之間仍然從目鏡看的到畫面。
- 為了防潮，存放顯微鏡時，除了選擇乾燥的房間外，存放地點也應離牆、離地、遠離濕源。
- 若採用偽彩色處理，則可把256個灰度級轉換成對應的彩色，使灰度很接近的細節和其周圍環境或其他細節易於識別，從而改善圖像，更利於計算機處理多特徵物圖像。
- 現在的光學顯微鏡的構造非常的複雜精密，為了精準成像，顯微鏡的光學路徑必須嚴謹的設計與控制。
- TEM的放大倍數通過樣品於物鏡的像平面距離之比來確定。
- 如前所述，通過調整磁透鏡使得成像的光圈處於透鏡的後焦平面處而不是像平面上，就會產生繞射圖樣。
解剖顯微鏡的光路設計有兩種： The Greenough Concept和The Telescope Concept。 立體顯微鏡 解剖顯微鏡常常用在一些固體樣本的表面觀察，或是解剖、鐘錶製作和小電路板檢查等工作上。 超聲波掃描顯微鏡的特點在於能夠精確的反映出聲波和微小樣品的彈性介質之間的相互作用，並對從樣品內部反饋回來的信號進行分析！ 圖像上（C-Scan）的每一個象素對應着從樣品內某一特定深度的一個二維空間座標點上的信號反饋，具有良好聚焦功能的Z.A傳感器同時能夠發射和接收聲波信號。
立體顯微鏡: 顯微鏡電子顯微鏡
不同於複式顯微鏡倒立的成像，立體顯微鏡擁有左右分別獨立的物、目鏡，於左、右眼眼分別產生正立放大的成像，能得到具有立體感的實體畫面。 反射顯微鏡的物體一般是不透明的，光從上面照在物體上，被物體反射的光進入顯微鏡。 立體顯微鏡 立體顯微鏡 這種顯微鏡經常被用來觀察固體等，多應用在工學、材料領域，在正立顯微鏡中，此類顯微鏡又稱作金相顯微鏡。 透射顯微鏡的物體是透明的或非常薄，光從可透過它進入顯微鏡。 十八世紀，光學顯微鏡的放大倍率已經提高到了1000倍，使人們能用眼睛看清微生物體的形態、大小和一些內部結構。
（2）防塵光學元件表面落入灰塵，不僅影響光線通過，而且經光學系統放大後，會生成很大的污斑，影響觀察。 灰塵、砂粒落入機械部分，還會增加磨損，引起運動受阻，危害同樣很大。 ①聚光鏡：由一片或數片透鏡組成，起匯聚光線的作用，加強對標本的照明，並使光線射入物鏡內，鏡柱旁有一調節螺旋，轉動它可升降聚光器，以調節視野中光亮度的強弱。 ②光圈(虹彩光圈)：在聚光鏡下方，由十幾張金屬薄片組成，其外側伸出一柄，推動它可調節其開孔的大小，以調節光量。 ②細調節器(細準焦螺旋)：小螺旋稱細調節器，移動時可使鏡台緩慢地升降，多在運用高倍鏡時使用，從而得到更清晰的物象，並藉以觀察標本的不同層次和不同深度的結構。 ①粗調節器(粗準焦螺旋)：大螺旋稱粗調節器，移動時可使鏡台作快速和較大幅度的升降，所以能迅速調節物鏡和標本之間的距離使物象呈現於視野中，通常在使用低倍鏡時，先用粗調節器迅速找到物象。
立體顯微鏡: 應用
儘管可以對格點圖像對比度進行定量的解釋，然而分析本質上非常複雜，需要大量的計算機仿真來計算。 電磁透鏡的主要元件包括外殼、磁線圈、磁極、極靴以及外部控制電路組成。 立體顯微鏡 極靴必須製造得非常對稱，這樣可以提供形成透鏡磁場的合適的邊界條件。
樣品盒將被插入氣閘中，其鑽孔與TEM光軸垂直。 在密封后，將操作氣閘以將樣品盒推入正確的位置，這時鑽孔將與TEM的光軸一致，電子束將穿過樣品盒的鑽孔射入樣品。 這種設計通常無法將樣品傾斜，因為一旦傾斜，就會阻礙電子束的通路，或者與物鏡發生干擾。
立體顯微鏡: MD-200&MD-300 立體顯微鏡-定格變倍
這時即使壓緊螺絲也旋不到位,偏心軸套也就壓不緊了。 發現這種故障,只要用M3的絲攻把螺絲孔的螺紋攻穿就能解決問題。 調整時，首先用螺絲刀把雙眼螺母中間的駐螺2退出1～2圈，軸承墊圈3是與駐螺2壓緊配合的，因此，也會跟着它一起退出，並脱離齒杆10的端面。 然後，用雙眼螺母扳手把雙眼螺母1向調節座5旋進。 同時，用另一隻手轉動手輪，進行試驗，直到升降機構鬆緊合適，又能停留在任意位置上時，才停止雙眼螺母的旋進。 最後，再把駐螺旋入，使軸承墊圈接觸齒杆10就行了。
可移動並且高度穩定的落地式支架為Mantis的操作員提供了一種多功能選項。 如前所述，通過調整磁透鏡使得成像的光圈處於透鏡的後焦平面處而不是像平面上，就會產生繞射圖樣。 對於單晶體樣品，繞射圖樣表現為一組排列規則的點，對於多晶或無定形固體將會產生一組圓環。
立體顯微鏡: 技術資料
SMZ660採用了尼康獨家開發的雙變焦光學，高效的6.3變倍比率。 變焦旋鈕還設有停止鍵可以在1倍到4倍切換之間仍然從目鏡看的到畫面。 下文並未把所有種類顯微鏡列表，只是簡介較知名的類型。 其他尚有像紫外線顯微鏡、X光顯微鏡、場離子顯微鏡等，僅用於較專門需要而開發的，少量生產的特種用途顯微鏡。
- 除顯微鏡、體視顯微鏡以外，寄生蟲學實習課用的器材、儀器尚有許多，在此我們不一一贅述，每次實習課輔導教師將向我們介紹，這裏僅將這些儀器、器材分類別略作一些使用原理的介紹。
- BT-2000 雙眼立體顯微鏡-無段變倍 BT-2000B 上光源6V15W鹵素杯燈可調光， …
- 另外，變焦主體內部的防黴設計使顯微鏡要在溫度和濕度較高的環境中使用。
- LX-200 雙眼立體顯微鏡-無段變倍 LX-200T 上光源12V15W鹵素杯燈可調光，下 …
- 數碼顯微鏡是將精鋭的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、液晶屏幕技術完美地結合在一起而開發研製成功的一項高科技產品。
- （2）集光器(聚光器)位於鏡台下方的集光器架上，由聚光鏡和光圈組成，其作用是把光線集中到所要觀察的標本上。
用於將TEM抽成達到需要的真空度的真空設備包含有若干級。 首先，需要使用旋片泵或者隔膜泵將TEM抽成低真空，以允許渦輪分子泵或者擴散泵將TEM抽至操作所需要的高度真空。 為了讓低真空泵不必連續運轉，而渦輪分子泵連續的進行操作，低壓泵的真空端需要與渦輪分子泵級聯。 TEM不同段可以使用門閥隔離，以允許在TEM的不同的區域達到不同的真空度，例如在高解析度TEM或者場發射TEM的電子槍處，需要真空度達到 10−4 至 10−7 帕，甚至更高的真空。 標準的TEM需要將電子的通路抽成氣壓很低的真空，通常需要達到10−4帕。
立體顯微鏡: 數位顯微鏡
圖像可以認為是樣品沿光軸方向上的二維投影，而且可以使用比爾定律來近似。 對亮場模式的更複雜的分析需要考慮到電子波穿過樣品時的相位資訊。 由於TEM的放大倍數很高，樣品台必須高度穩定，不會發生力學漂移。 通常要求樣品台的漂移速度僅有每分鐘幾奈米，而移動速度每分鐘幾微米，精度要求達到奈米的量級。 早期的TEM設計通過一系列複雜的機械設備來達到這個目標，允許操作者通過若干旋轉杆來精確的控制樣品台的移動。 現代的TEM樣品台採用電子樣品台的設計，通過步進電機來移動平台，使操作者可以利用計算機輸入設備來移動樣品台，如操縱杆或軌跡球。
光學顯微鏡的解析度受到光波長的限制，一般不超過0.3微米。 假如顯微鏡使用紫外線作為光源或物體被放在油中的話，解析度還可以得到提高。 立體顯微鏡 （2）對光：用拇指和中指移動旋轉器(切忌手持物鏡移動)，使低倍鏡對準鏡台的通光孔(當轉動聽到碰叩聲時，説明物鏡光軸已對準鏡筒中心)。 調節為較大光圈並將反光鏡轉向光源，左眼在目鏡上觀察(右眼睜開),同時調節反光鏡偏轉角度，直到視野內出現明亮光斑為止。 電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點的最小間距來表示。
立體顯微鏡: 工作內容
除了3.05mm直徑的網格，2.3mm直徑的網格偶爾也在實際中使用。 這些網格在材料科學領域中得到廣泛應用，這是因為經常需要將樣品傾斜很大的角度，而樣品材料經常非常稀少。 對電子透明的樣品的厚度約100奈米，但是這個厚度與加速電子的電壓相關。 從上至下，TEM包含有一個可能由鎢絲製成也可能由六硼化鑭製成的電子發射源。
體視顯微鏡因其所具備的眾多優點在工農業和科研各部門有着廣泛的應用。 體視顯微鏡，亦稱實體顯微鏡，是從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。 對觀察體無需加工製作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，像是直立的，便於操作和解剖。 視場直徑大，但觀察物要求放大倍率在200倍以下。 立體顯微鏡又稱「實體顯微鏡」或「解剖鏡」，在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。 立體感強，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，並是適用範圍非常廣泛的常規顯微鏡。
立體顯微鏡: 微世界 顯微鏡儀器設備
隨著套用的要求，體視鏡可選配豐富的選購附屬檔案，如熒光，照相，攝像，冷光源等等。 採用伽利略光學系統加上改進鍍膜的 DF 無扭曲物鏡，提供了高NA值的高解析度影像。 加上0.8x – 5.6x的變焦機身，適用各種標本的觀察。
對於單晶體，繞射圖樣與電子束照射在樣品的方向以及樣品的原子結構有關。 通常僅僅根據繞射圖樣上的點的位置與觀測圖像的對稱性就可以分析出晶體樣品的空間群資訊以及樣品晶體方向與電子束通路的方向的相對關係。 在這一模式中，古典的對比度資訊根據樣品對電子束的吸收所獲得。 樣品中較厚的區域或者含有原子數較多的區域對電子吸收較多，於是在圖像上顯得比較暗，而對電子吸收較小的區域看起來就比較亮，這也是亮場這一術語的來歷。
立體顯微鏡: 立體顯微鏡使用環境
第二個是荷蘭亞麻織品商人列文虎克（1632年-1723年），他自己學會了磨製透鏡。 他第一次描述了許多肉眼所看不見的微小植物和動物。 2x、4x、6x 和 8x 的放大倍數選擇，可提供清晰、銳利的圖像，以及較長的工作距離和較大的景深。 對繞射圖樣點對點的分析非常複雜，這是由於圖像與樣品的厚度和方向、物鏡的失焦、球面像差和色差等等因素都有非常密切的關係。
立體顯微鏡: WHITED 顯微鏡
現代的TEM經常裝備有允許操作人員將樣品傾斜一定角度的夾具，以獲得特定的繞射條件，而光圈也放在樣品的上方以允許用戶選擇能夠以合適的角度進入樣品的電子束。 這些線圈中的電流可以變化，然而經常使用很高的電壓，因此需要很強的絕緣能力，以防止透鏡元件之間發生短路。 線圈可能還需要使用水冷，亦即使用流動的冷水將熱量帶走。 電子槍由若干基本元件組成：燈絲，偏置電路，韋乃特陰極，還有陽極。 通過將燈絲和負電壓電源相連，電子可以通過電子槍泵往陽極，並射入TEM的真空腔，從而完成整個迴路。
立體顯微鏡: 顯微鏡光學顯微鏡
對於鏡面體・透明體等難度高的材質，可高速、高精度、大範圍量測。 高倍率/低倍率、平面/凹凸/表面粗糙度、鏡面/透明等目標物不受限的全新雷射顯微鏡。 （3）將待觀察的標本置載物台上，轉動粗調節器使鏡筒下降至接物鏡接近標本。
主要用途： 該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理。 具有高性能x射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。 從一個點光源發射的探測光通過透鏡聚焦到被觀測物體上，如果物體恰在焦點上，那麼反射光通過原透鏡應當匯聚回到光源，這就是所謂的共聚焦，簡稱共焦。 可以想像，探測光焦點前後的反射光通過這一套共焦系統，必不能聚焦到小孔上，會被擋板擋住。